DIN 42115-3-1988 薄膜开关.薄膜键格.额定值、要求、试验

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 14:16:29  浏览:8185   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Membraneswitches;membrane-switch-arrays;ratings,requirements,tests
【原文标准名称】:薄膜开关.薄膜键格.额定值、要求、试验
【标准号】:DIN42115-3-1988
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1988-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;开关;额定值;规范(审批);材料;电子设备及元件;电气工程;键(键盘);键盘;薄膜开关;检验;箔;尺寸;作标记;数据处理
【英文主题词】:Dataprocessing;Dimensions;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Foil;Inspection;Keyboards;Keys(keyboards);Marking;Materials;Membraneswitches;Ratings;Specification(approval);Switches
【摘要】:Thisstandardcontainsadditionalrequirementsandtestformembrane-switch-arrays.
【中国标准分类号】:L22
【国际标准分类号】:31_220_20
【页数】:8P;A4
【正文语种】:德语