BS EN ISO 9220-1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法

作者:标准资料网时间:2024-05-05 15:23:11 浏览:8116 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Metalliccoatings-Measurementofcoatingthickness-Scanningelectronmicroscopemethod
【原文标准名称】:金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
【标准号】:BSENISO9220-1989
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1989-09-29
【实施或试行日期】:1989-09-29
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:覆层厚度;涂层;定义;定义(术语);测定;尺寸测量;层厚度测量;材料测试;测量;金属涂层;显微分析;扫描电子显微镜;测试;试验;厚度;厚度测量
【英文主题词】:Coatingthickness;Coatings;Definition;Definitions;Determination;Dimensionalmeasurement;Layerthicknessmeasurement;Materialstesting;Measurement;Metalcoatings;Microscopicanalysis;Scanningelectronmicroscopes;Testing;Tests;Thickness;Thicknessmeasurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:17_040_20
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: ISO 1608-2-1989 蒸气真空泵性能特性的测量第2部分:临界前级压力的测量
下一篇: BS EN ISO 4524-6-1989 金属镀层.电镀金和金合金镀层测试方法.残留盐类测定